SRM 3600 X射線散射校準(zhǔn) NIST標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)

       SRM 3600旨在用于小角度 X 射線散射 (SAXS) 儀器的散射強度校準(zhǔn)。 SAXS 測量表征了異質(zhì)材料系統(tǒng)的微觀結(jié)構(gòu)和納米結(jié)構(gòu)：特別是微米級和納米級特征的尺寸分布，以及通過散射強度校準(zhǔn)，它們的體積分?jǐn)?shù)或數(shù)量濃度，以及它們的表面積 。 SRM 3600 的一個單元由一個大約尺寸為 10 mm x 10 mm x 1 mm 的玻璃碳試樣組成。

品牌：NIST標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)

SRM Number（貨號）：SRM 3600

Description：Absolute Intensity Calibration Standard for Small-Angle X-ray Scattering

描述：X射線散射校準(zhǔn)

Unit of Issue（產(chǎn)品規(guī)格）：coupon

SRM 3600 X射線散射校準(zhǔn) NIST標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)

        儲存方法：SRM 3600 應(yīng)在干燥的環(huán)境條件下存放在提供的塑料膜盒內(nèi)，遠(yuǎn)離過多的水分或熱量（最高 60 °C）。 SRM 3600 玻璃碳材料已被證明可在長時間校準(zhǔn)時保持穩(wěn)定，在這些儲存條件下具有無限的保質(zhì)期。

        使用方法：要使用 SRM 3600 使用帶有二維 (2D) 位置敏感檢測器 (PSD) 的傳統(tǒng) SAXS 儀器為“未知"樣品提供 SAXS 強度校準(zhǔn)，必須遵循幾個步驟。根據(jù)需要使用衰減器保護(hù) 2D PSD 免受入射 X 射線束的影響（空白、樣品和標(biāo)準(zhǔn)品的衰減相同），測量樣品 TS 和標(biāo)準(zhǔn)品 TSTD 相對于入射光束的透射率（空白）在 Q = 0 時測量的強度，其中 Q = (4π/λ)sinθ，λ 是 X 射線波長，θ 是散射角的一半 [1]。還可以從這些傳輸測量中確定 2D PSD 上的入射光束位置。然后，用一個光束擋板保護(hù) 2D PSD 免受入射 X 射線束的影響，在相同條件下對“未知"樣品、空白（不存在樣品）和電子背景（X 射線）進(jìn)行 SAXS 測量光束關(guān)閉）和 SRM 3600 標(biāo)準(zhǔn)試樣。將每個 2D PSD 像素的所有測量強度歸一化為入射光束強度，然后減去每個像素的電子背景。對于樣品和標(biāo)準(zhǔn)品，分別減去每個 PSD 像素的空白散射，分別由因子 TS 或 TSTD 衰減。然后相對于探測器上的入射光束位置（Q = 0 的位置）對 2D PSD 數(shù)據(jù)進(jìn)行循環(huán)平均，并除以各自的透射率 TS 或 TSTD 以及樣品或標(biāo)準(zhǔn)厚度 τSor τSTD。請注意，對于 SRM 3600，應(yīng)使用 τSTD = 1.055 mm

部分NIST標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)產(chǎn)品列表（因篇幅有限，僅列舉極小部分）: